En el pasado, demasiados paneles orgánicos de diodos emisores de luz (OLED) presentaban fallos catastróficos antes de sus 50.000 horas de vida útil. A medida que la iluminación OLED se vuelve comercialmente viable, uno de los problemas más comunes son los cortocircuitos dentro del dispositivo, lo que reduce la vida útil del producto causando fallos catastróficos. Los fabricantes de paneles han adoptado medidas para mitigar estos “cortocircuitos”, pero se desconoce su origen y porqué se causan.
Los defectos debido a cortocircuitos son el desafío más importante en la actualidad relacionado con la fiabilidad de la iluminación OLED. Con la ayuda de los fondos del DOE, los investigadores de la Universidad Estatal de Pensilvania están desarrollando una compresión científica básica de cómo estos defectos se originan y crecen a un nivel catastrófico, lo que causa el fallo final en el dispositivo.
El proyecto se centra en identificar el origen físico de los cortocircuitos, modelar su evolución, predecir qué paneles fallarán y desarrollar estrategias de mitigación para reducir su aparición. El objetivo final es reducir la tasas de fallas del panel a menos del 0,01%.
En base a sus observaciones hasta la fecha, los investigadores ahora tienen un modelo de trabajo en que los cortocircuitos incipientes se manifiestan más temprano como “puntos calientes”, y son capaces de detectar paneles OLED con una técnica de imagen de puntos calientes para determinar la ubicación de estos defectos microscópicos. Habiendo llegado a comprender su origen físico, que parecen ser partículas de materia orgánica de escala micrométrica, el equipo está llevando a cabo varias estrategias de mitigación que implican cambios en el proceso de deposición y se centran en eliminar la fuente de los defectos y detener su crecimiento, para evitar que se vuelvan catastróficos.
Puede encontrar más información del proyecto en el siguiente enlace:
https://www.energy.gov/sites/prod/files/2018/06/f52/33111o_Giebink_050218-830.pdf
